能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
探测器SDD
含量范围ppm--
电源电压220V
分析时间200秒左右
检测限1ppm(基材不同有所变化)
EDX合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。

X荧光光谱技术的发展
1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪,这是中国次引进X荧光光谱分析仪。 1895年,德国物理学家伦琴发现了X射线。 1896年,法国物理学家乔治发现了X射线荧光。 1948年,弗里德曼和伯克斯研制了台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪。
1969年,美国海军实验室研制真正意义上的EDXRF光谱仪。从上面的X荧光光谱仪的初始发展过程来看,荧光光谱分析仪这项技术比较年轻,从发现X射线荧光到出现X射线荧光光谱分析仪都不过一**,后应用到各种领域中的时间也才几十年。同样,我国X荧光光谱分析也是光谱分析领域中较年轻的分析手段之一,1959年,我国请苏联来华在应化所举办了x光谱学习班,随后,我国不断开展X荧光光谱学习班,为之后中国X荧光光谱分析技术打好了基础。
1981年,我国X光谱分析工作者出版了自己编著的书籍,由此可见,在这些年中,我国研究X荧光光谱的学者们做了不少的工作。
从上,我们知道了很多厂家都喜欢购买进口光谱仪,还了解我国引进台X荧光光谱仪后的发展,明明前后研制的时间差不多,几年的差距为什么技术差别那么大,我们是否真正克服了这项技术。1959年,我国研制了台X荧光光谱分析仪,但是这是大型的X荧光光谱分析仪(我们现在购买的X荧光仪器都是手持式的,方便易携带)。当年有单位购买了国产的大型X荧光光谱仪后,不仅所发挥的作用不大,还经常发生故障,不能充分发挥作用,因此,我国X荧光光谱分析发展受到了影响,大部分工作还是用进口仪器完成。 在X荧光光谱仪的研制与投产上学者与研制者们集聚力量,对X荧光光谱技术进行分析,之后的成果斐然。北京师范大学在X荧光光谱分析在表面微区,微试样的分析中做出了开创性的工作。王燕,赵敏等学者对X荧光强度与含量的线性关系进行了分析,并对定量分析方法进行了模拟运算,总结了优的计算方法。周云泷等学者通过计算机软件分析计算,对一些微量元素进行分析,达到较为满意的分析结果。之后的一些研究因篇幅原因不再一一概述,但之后越来越多的学者们都为X荧光光谱分析付出了努力。

**薄窗X光管
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制;
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
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